檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "鄭正元".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="橫向長晶"
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為了獲得高性能高均一性的薄膜電晶體,我們藉由透鏡陣列輔助單晶定位技術,將TFT的通道位置以避開晶種的方式製作於粒徑為10μm的單晶矽晶粒中。另外我們也以半吸光層輔助結晶的技術,成功的在非晶矽膜以及多…
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目前多晶矽薄膜橫向長晶製程參數研究,大多採用嘗試錯誤的方法,透過實驗室實際製程來對每一個參數進行操控,並以此來瞭解各個參數對長晶的影響。然而橫向長晶的影響參數眾多,因此這樣的方法耗力而且耗時。由於多…